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高精度電子天平的內(nèi)校砝碼校正的方法
點(diǎn)擊: 次 時間:2020-01-08 11:00
由于高精度電子天平的相對精度很高,均在百萬分之一以上,當(dāng)受到環(huán)境溫度變化,天平自身通電后發(fā)熱的溫度變化,元器件的老化,空氣壓力的變化,水平位置的變化等多種因素的影響,都會使稱重結(jié)果不正確,因此,在很多高精度電子天平中都裝有內(nèi)部校正砝碼,當(dāng)當(dāng)受到溫度等外部環(huán)境影響時。即時用內(nèi)部校正砝碼對天平進(jìn)行重新校正,修改校正系數(shù),使天平恢復(fù)正確的稱重結(jié)果,這對高精度電子天平的稱重是非常必要的。而高精度電子天平的內(nèi)校砝碼的生產(chǎn)有較高的要求,它對砝碼材料密度、磁化率、砝碼表面光潔度均有很高的要求外,對砝碼實(shí)際質(zhì)量的準(zhǔn)確性有較高的要求,如天平的實(shí)際分度值為0.1mg,則內(nèi)部校正砝碼的實(shí)際質(zhì)量誤差就應(yīng)小于0.05mg,這樣的要求給砝碼生產(chǎn)過程中的調(diào)整帶來困難,同時由于經(jīng)常使用帶來的磨損及氧化等造成砝碼質(zhì)量變化,產(chǎn)生校正偏差,這對內(nèi)部校正砝碼進(jìn)行修正相當(dāng)困難,目前尚沒有行之有效的內(nèi)部校正砝碼的校正方法。
提供一種可降低內(nèi)內(nèi)校砝碼質(zhì)量準(zhǔn)確性要求,并能對已磨損、氧化造成琺碼質(zhì)量變化的內(nèi)校砝碼可方便地修正的高精度電子天平的內(nèi)校砝碼校正的方法。
技術(shù)方案是用一個檢測程序和改變通常求校正系數(shù)的算法來實(shí)現(xiàn)的,其方法步驟如下:
1、通過本天平的稱重系統(tǒng)稱出內(nèi)校砝碼的重量值P1,并存入微機(jī);
2、在上述同一天平上稱出一只名義值和上述內(nèi)校砝碼相同的標(biāo)準(zhǔn)砝碼的重量P2,并存入微機(jī);
3、在微機(jī)內(nèi)算出差值D,D=P2-P1作為內(nèi)校砝碼的修正量;
4、根據(jù)公式 求得校正系數(shù)K,存入微機(jī)。
本方法簡單方便,可使生產(chǎn)內(nèi)校碼過程中對內(nèi)校碼質(zhì)量的準(zhǔn)確性要求降低,降低生產(chǎn)成本,并能對已磨損、氧化造成琺碼質(zhì)量變化的內(nèi)校砝碼可方便地修正。
具體實(shí)施例方式:
舉例說明,例有一臺稱量為200克量程,實(shí)際分度值為0.0001克的電子天平。內(nèi)校砝碼的名義值為200克。首先啟動程序,通過本天平的稱重系統(tǒng)稱出內(nèi)校砝碼重量值P1為200.0010克,存入微機(jī)內(nèi)存,然后用一只200克,誤差小于0.05毫克的標(biāo)準(zhǔn)砝碼,亦在本天平的稱重系統(tǒng)稱出其重量P2為200.0020克,在微機(jī)得到其差值D為D=P2-P1,為200.0020-200.0010=.0010克即為內(nèi)校砝碼的修正量,根據(jù)公式 =0.999990]]>以此K值和稱量數(shù)據(jù)相乘,則得到精確的數(shù)字顯示。
其稱量過程為稱重傳感器的模擬信號經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號輸入到微機(jī)中,在微機(jī)內(nèi)進(jìn)行如零點(diǎn)、線性化等處理得到的數(shù)據(jù)與已在微機(jī)內(nèi)存放的校正系數(shù)K相乘后由顯示器顯示所稱地物重。
一種高精度電子天平的內(nèi)校砝碼校正的方法,其方法步驟為:
(1)通過本天平的稱重系統(tǒng)稱出內(nèi)校砝碼的重量值P1,并存入微機(jī);
(2)在上述同一天平上稱出一只名義值和上述內(nèi)校砝碼相同的標(biāo)準(zhǔn)砝碼的重量P2,并存入微機(jī);
(3)在微機(jī)內(nèi)算出差值D,D=P2-P1作為內(nèi)校砝碼的修正量;
(4)根據(jù)公式 求得校正系數(shù)K,存入微機(jī)。
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