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產(chǎn)品列表

圖片 名稱/價(jià)格/廠家 參數(shù) 詳細(xì)資料
名稱:上海儀電物光WSF-J分光測(cè)色儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WSF-J
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 應(yīng)用范圍: WSF-J分光測(cè)色儀是一種性能優(yōu)越、用途廣泛而又操作簡(jiǎn)便的測(cè)色儀。適用于測(cè)量各種物體的反射色及透射色,可以測(cè)試色度、白度以及兩種物體或液體的色差等。儀器的照明接收方式為CIE規(guī)定的d/8。它可以顯示可見光波段(380nm~760nm)中物體或液體的反射比與透射比,可給出物... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WSF-J分光測(cè)色儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WSF-J
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 應(yīng)用范圍: WSF-J分光測(cè)色儀是一種性能優(yōu)越、用途廣泛而又操作簡(jiǎn)便的測(cè)色儀。適用于測(cè)量各種物體的反射色及透射色,可以測(cè)試色度、白度以及兩種物體或液體的色差等。儀器的照明接收方式為CIE規(guī)定的d/8。它可以顯示可見光波段(380nm~760nm)中物體或液體的反射比與透射比,可給出物... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WSF分光測(cè)色儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WSF
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 應(yīng)用范圍: WSF分光測(cè)色儀是一種性能優(yōu)越、用途廣泛而又操作簡(jiǎn)便的測(cè)色儀。適用于測(cè)量各種物體的反射色及透射色,可以測(cè)試物體的白度、色度以及兩種物體的色差。儀器的照明接收方式為CIE規(guī)定的d/0。它可以顯示可見光波段(400nm~700nm)中物體的反射比與透射比,并可通過接口與電腦通... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光 WSC-S測(cè)色色差計(jì)
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào): WSC-S
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 應(yīng)用范圍: WSC-S 測(cè)色色差計(jì)是一種性能優(yōu)越,用途廣泛而又操作方便的測(cè)色儀,適用于測(cè)定各種物體的反射色,可以測(cè)試物體的白度、色度以及兩種物體的色差,它配用的幾何條件的測(cè)試頭,即CIE 規(guī)定的0/d 。WSC-S 測(cè)色色差計(jì)臺(tái)式便攜式二用,數(shù)字顯示,并可打印。該儀器可廣泛應(yīng)用于紡... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WSB-L白度計(jì)
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WSB-L
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 應(yīng)用范圍: 儀器用于測(cè)定紙張、建筑材料、淀粉、麥粉、食用白糖、食鹽等的蘭光白度。儀器為手動(dòng)校零校標(biāo)的儀器。適合中小型企業(yè)應(yīng)用。 性能指標(biāo) 測(cè)量范圍:0~120 照明方式:45/0 峰值波長(zhǎng):457nm 穩(wěn)定性:±0.2 重復(fù)性:0.3 示值誤差:±1.5%... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WBL系列全自動(dòng)比表面積及孔隙度分
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WBL系列
是否有現(xiàn)貨:
WBL系列全自動(dòng)比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和GB-119587國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),依據(jù)靜態(tài)容量法測(cè)量原理,通過質(zhì)量平衡方程、靜態(tài)氣體平衡和壓力測(cè)定來測(cè)試吸脫附過程,測(cè)試過程在液氮溫度下進(jìn)行。已知量氣體充入樣品管后,會(huì)引起壓力下降,由此計(jì)算吸附平衡時(shí)被吸附氣體的摩爾質(zhì)量。... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WKL-702
是否有現(xiàn)貨:
工作原理: WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WKL-722
是否有現(xiàn)貨:
工作原理 WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行粉塵分散度分析和粒度測(cè)量的粉塵分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和粉塵分散度處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的粉塵圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過專用的粉塵分散度處... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WJL-612型激光粒度儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WJL-612
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律... 詳細(xì)
名稱:上海儀電物光WJL-626型激光粒度儀
市場(chǎng)價(jià)格:
優(yōu)惠價(jià)格:
型號(hào):WJL-626
是否有現(xiàn)貨:
詳細(xì)介紹: 工作原理: 采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。 顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布... 詳細(xì)
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